XRD測(cè)試時(shí)峰位整體向左偏移,是什么原因
你做xrd測(cè)試的時(shí)候,樣品表面有沒(méi)有與基片水平?不平的話峰會(huì)偏移。另外,增強(qiáng)相有沒(méi)有與基體置換固溶導(dǎo)致晶格常數(shù)減小?
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