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RUElektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
Für die Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie gibt es insgesamt 142 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Elektrizit?t, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Umfangreiche elektronische Komponenten, Zerst?rungsfreie Prüfung, Metrologie und Messsynthese, L?ngen- und Winkelmessungen, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsger?te, Optik und optische Messungen, Optische Ausrüstung, Prüfung von Metallmaterialien, Partikelgr??enanalyse, Screening, Diskrete Halbleiterger?te, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Kriminalpr?vention, Strahlenschutz, Messung des Flüssigkeitsflusses, Kernenergietechnik, Strahlungsmessung.
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- GB/T 41072-2021 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse durch Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie
- GB/T 41073-2021 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie
- GB/T 41064-2021 Chemische Oberfl?chenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekund?rionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
- GB/T 35099-2018 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie mit energiedispersiver R?ntgenspektrometrie – Morphologie und Elementanalyse einzelner feiner Partikel in der Umgebungsluft
- GB/T 36504-2018 Leitfaden zur Analyse der Oberfl?chenverunreinigung von Leiterplatten – Auger-Elektronenspektroskopie
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- GB/T 31470-2015 Standardpraxis zur Bestimmung der Probenfl?che, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen R?ntgenphotoelektronenspektrometern beitr?gt
- GB/T 28632-2012 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Aufl?sung
- GB/T 21006-2007 Chemische Oberfl?chenanalyse.R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer.Linearit?t der Intensit?tsskala
- GB/T 26533-2011 Allgemeine Regeln für die Auger-Elektronenspektroskopie-Analyse
- GB/T 25184-2010 Verifizierungsmethode für R?ntgenphotoelektronenspektrometer
- GB/T 19500-2004 Allgemeine Regeln für die r?ntgenphotoelektronenspektroskopische Analysemethode
- GB/T 28893-2024 Chemische Oberfl?chenanalyse Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie Methoden zur Bestimmung von Peakintensit?ten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- GB/T 28893-2012 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Peakintensit?ten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- GB/T 29556-2013 Chemische Oberfl?chenanalyse. Schneckenelektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Aufl?sung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
- GB/T 22571-2008 Chemische Oberfl?chenanalyse.R?ntgenphotoelektronenspektrometer.Kalibrierung von Energieskalen
- GB/T 25187-2010 Chemische Oberfl?chenanalyse.Auger-Elektronenspektroskopie.Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- GB/T 32266-2015 Methode zur Leistungsprüfung eines Atomfluoreszenzspektrometers
- GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen R?ntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
- GB/T 30704-2014 Chemische Oberfl?chenanalyse.R?ntgenphotoelektronenspektroskopie.Richtlinien für die Analyse
- GB/T 30702-2014 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- KS D 2518-2005 Methoden zur photoelektrischen Emissionsspektrochemischen Analyse von Cadmiummetall
- KS D 2518-1982 Methoden zur photoelektrischen Emissionsspektrochemischen Analyse von Cadmiummetall
- KS D ISO 21270-2020 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- KS D ISO 21270:2005 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- KS D ISO 21270-2005(2020) Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- KS D ISO 19319-2005(2020) Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
- KS D ISO 15471-2020 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- KS D ISO 15470-2005(2020) Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- KS D ISO 18118-2005(2020) Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse von h
- KS D ISO 18118-2020 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
- KS D ISO 15471-2005(2020) Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- KS D ISO 15470-2020 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- KS D ISO 19319-2020 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
- KS D ISO 19319:2005 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
Professional Standard - Agriculture, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- JJG(教委) 013-1996 Eichvorschriften für Elektronenspektrometer
- GB/T 44147-2024 Leistungstestmethoden für Flüssigkeitschromatographie und Atomfluoreszenzspektrometrie
Professional Standard - Education, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- JY/T 013-1996 Allgemeine Regeln für Elektronenspektrometermethoden
Professional Standard - Electron, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- SJ/T 10458-1993 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben in der Schneckenelektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie
- SJ/T 10457-1993 Standardhandbuch für die Tiefenprofil-Schneckenelektronenspektroskopie
American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- ASTM E996-10(2018) Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E996-19 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E995-11 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E995-16 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E2108-16 Standardpraxis zur Kalibrierung der Elektronenbindungsenergieskala eines R?ntgenphotoelektronenspektrometers
- ASTM E996-04 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E996-10 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E996-94(1999) Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie
- ASTM E722-09 Standardpraxis zur Charakterisierung von Neutronenfluenzspektren im Hinblick auf eine ?quivalente monoenergetische Neutronenfluenz für die Strahlungsh?rteprüfung von Elektronik
- ASTM E722-94(2002) Standardpraxis zur Charakterisierung von Neutronenenergie-Fluenzspektren im Hinblick auf eine ?quivalente monoenergetische Neutronenfluenz für die Strahlungsh?rteprüfung von Elektronik
- ASTM E722-04e2 Standardpraxis zur Charakterisierung von Neutronenenergie-Fluenzspektren im Hinblick auf eine ?quivalente monoenergetische Neutronenfluenz für die Strahlungsh?rteprüfung von Elektronik
- ASTM E1217-11(2019) Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfl?che, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen R?ntgen-Photoelektronenspektrometern beitr?gt
- ASTM E1127-91(1997) Standardhandbuch für die Tiefenprofilierung in der Auger-Elektronenspektroskopie
- ASTM E1127-08 Standardhandbuch für die Tiefenprofilierung in der Auger-Elektronenspektroskopie
- ASTM E1127-08(2015) Standardhandbuch für die Tiefenprofilierung in der Auger-Elektronenspektroskopie
- ASTM E722-04 Standardpraxis zur Charakterisierung von Neutronenenergie-Fluenzspektren im Hinblick auf eine ?quivalente monoenergetische Neutronenfluenz für die Strahlungsh?rteprüfung von Elektronik
- ASTM E722-04e1 Standardpraxis zur Charakterisierung von Neutronenenergie-Fluenzspektren im Hinblick auf eine ?quivalente monoenergetische Neutronenfluenz für die Strahlungsh?rteprüfung von Elektronik
Group Standards of the People's Republic of China, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- T/CAIA YQ004-2018 Leistungstestverfahren für einen Flüssigkeitschromatographen gekoppelt mit einem Atomfluoreszenzspektrometer
- T/CAIA YQ006-2018 Leistungstestmethode der Ionenchromatographie
- T/CSTM 00962-2022 Bewertungsmethode für die Spektrometerleistung der atomaren Funkenentladungsemission
- T/GDCKCJH 046-2021 Leistungsanforderungen und Prüfverfahren für Helium-Massenspektrometer-Lecksucher
- T/CSTM 00964-2022 Allgemeine Regeln zur Leistungsbewertung von Atomspektrometern
German Institute for Standardization, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- DIN ISO 16129:2020-11 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
- DIN ISO 16129 E:2020-01 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- DIN ISO 16129:2020 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
- DIN ISO 15472 E:2019-09 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
- DIN ISO 15472:2020-05 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
British Standards Institution (BSI), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- BS ISO 16129:2018 Chemische Oberfl?chenanalyse. R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- BS ISO 19830:2015 Chemische Oberfl?chenanalyse. Elektronenspektroskopien. Mindestanforderungen an die Berichterstattung für die Peakanpassung in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie
- BS ISO 16129:2012 Chemische Oberfl?chenanalyse. R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- BS ISO 18516:2006(2010) Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung
- BS ISO 21270:2004(2010) Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- BS ISO 21270:2004 Chemische Oberfl?chenanalyse. R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer. Linearit?t der Intensit?tsskala
- BS ISO 15471:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- BS ISO 20903:2019 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensit?ten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
- BS ISO 17109:2015 Chemische Oberfl?chenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekund?rionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
- BS ISO 17109:2022 Chemische Oberfl?chenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekund?rionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberfl?chenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekund?rionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…
- BS ISO 10810:2019 Chemische Oberfl?chenanalyse. R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
- BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieaufl?sung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
- BS ISO 18118:2024 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
- BS ISO 18118:2015 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
- BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
- PD ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Ableitung chemischer Informationen
GSO, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- OS GSO ISO 16129:2014 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- BH GSO ISO 16129:2015 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- BH GSO ISO 19830:2017 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestanforderungen an die Berichterstattung für die Peakanpassung in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie
- GSO ISO 19830:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestanforderungen an die Berichterstattung für die Peakanpassung in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie
- OS GSO ISO 18516:2013 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung
- GSO ISO 18516:2013 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung
- BH GSO ISO 18516:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung
- GSO ISO 21270:2014 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- OS GSO ISO 21270:2014 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- BH GSO ISO 21270:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- GSO ISO 15471:2013 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- BH GSO ISO 20903:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensit?ten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- BH GSO ISO 15472:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
- GSO ISO 20903:2013 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensit?ten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
- OS GSO ISO 10810:2013 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
- GSO ISO 24639:2024 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
- GSO ISO 10810:2013 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
- BH GSO ISO 10810:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
- OS GSO ISO 18554:2017 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Verfahren zur Identifizierung, Sch?tzung und Korrektur einer unbeabsichtigten Verschlechterung durch R?ntgenstrahlen in einem Material, das einer Analyse durch R?ntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird
- GSO ISO 18554:2017 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Verfahren zur Identifizierung, Sch?tzung und Korrektur einer unbeabsichtigten Verschlechterung durch R?ntgenstrahlen in einem Material, das einer Analyse durch R?ntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird
- BH GSO ISO 18118:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
International Organization for Standardization (ISO), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- ISO 16129:2018 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- ISO 19830:2015 Chemische Oberfl?chenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie
- ISO 21270:2004 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearit?t der Intensit?tsskala
- ISO 16129:2012 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- ISO 17109:2022 Chemische Oberfl?chenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekund?rionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S
- ISO 17109:2015 Chemische Oberfl?chenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekund?rionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
- ISO 18118:2024 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse
- ISO 10810:2019 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
- ISO 15470:2017 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Ableitung chemischer Informationen
- ISO/DIS 18118:2023 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
- ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieaufl?sung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
- ISO/TR 19319:2003 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Aufl?sung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- GB/T 35158-2017 Verifizierungsmethode für Auger-Elektronenspektrometer (AES)
- GB/T 32565-2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
- GB/T 22571-2017 Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
- GB/T 32998-2016 Chemische Oberfl?chenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
- GB/T 33502-2017 Chemische Oberfl?chenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)
SCC, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- 11/30230635 DC BS ISO 16129. Chemische Oberfl?chenanalyse. R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers
- DIN ISO 16129 E:2020 Entwurf eines Dokuments – Chemische Oberfl?chenanalyse – R?ntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der t?glichen Leistung eines R?ntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
- BS PD ISO/TR 19319:2003 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Aufl?sung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
- BS ISO 15472:2001 Chemische Oberfl?chenanalyse. R?ntgenphotoelektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen
- BS ISO 15471:2004 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Beschreibung ausgew?hlter instrumenteller Leistungsparameter
- ISO 15472:2001/DAmd 1 Chemische Analyse von Oberfl?chen – R?ntgen-Photoelektronenspektrometer – Energiekalibrierung – ?nderung 1
- ISO 17109:2015/DAmd 1 Chemische Oberfl?chenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der R?ntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekund?rionen-Massenspektrometrie – Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen – Ein...
- BS ISO 20903:2006 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensit?ten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
- BS ISO 18118:2004 Chemische Oberfl?chenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und R?ntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
IPC - Association Connecting Electronics Industries, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
Professional Standard - Machinery, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- JB/T 6976-1993 Auger-Elektronenspektroskopie-Elementidentifizierungsmethode
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- GJB 3495-1998 Verfahren zur Messung des Neutronenenergiespektrums für einen schnellen Neutronenpulsreaktor
Association Francaise de Normalisation, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- NF ISO 24236:2006 Chemische Analyse von Oberfl?chen – Auger-Elektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Energieskala
KR-KS, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
Professional Standard - Judicatory, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/R?ntgenenergiespektrometrie
Professional Standard - Nuclear Industry, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- EJ/T 20123-2016 Auf dem Spektrum basierende Messger?te für die Umgebungs?quivalentdosis (Rate) von Neutronen
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektronische Energiespektroskopie und Energiespektroskopie
- CNS 8830-1998 Methode zur Bestimmung von Neutronenfluenzraten/-fluenz und -spektren durch Radioaktivierungstechniken