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Método de prueba de fotocorriente

Método de prueba de fotocorriente, Total: 10 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Método de prueba de fotocorriente son: Optoelectrónica. Equipo láser.

Professional Standard - Electron, Método de prueba de fotocorriente

• SJ 2214.10-1982 Método de medición de la corriente luminosa de fotodiodos semiconductores y fototransistores.
• SJ 2214.3-1982 Método de medición de corriente oscura de fotodiodos semiconductores.
• SJ 2214.8-1982 Método de medición del voltaje de corriente oscura de fototransistores semiconductores.
• SJ 2214.5-1982 Método de medición de la capacitancia de unión de fotodiodos semiconductores.
• SJ 2214.4-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa de fotodiodos semiconductores.
• SJ 2214.6-1982 Método de medición de la tensión de ruptura inversa colector-emisor de fototransistores semiconductores
• SJ 2214.1-1982 Procedimientos generales de medición para fotodiodos semiconductores y fototransistores.
• SJ 2214.2-1982 Método de medición de la tensión directa de fotodiodos semiconductores.
• SJ 2214.7-1982 Método de medición del voltaje de saturación de fototransistores semiconductores.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Método de prueba de fotocorriente

• ASTM F448-18 Método de prueba estándar para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario

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