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Análisis de elementos de superficie de silicio.

Análisis de elementos de superficie de silicio., Total: 25 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis de elementos de superficie de silicio. son: Química analítica, Materiales de construcción, Metales ferrosos.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis de elementos de superficie de silicio.

• KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
• KS D ISO 17973-2021 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• KS D ISO 17973-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• KS D ISO 17973-2011(2016) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de resolución media－Calibración de escalas de energía para análisis elemental

KR-KS, Análisis de elementos de superficie de silicio.

• KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), Análisis de elementos de superficie de silicio.

• GB/T 40110-2021 Análisis químico de superficie: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
• GB/T 39527-2020 Determinación de calcio, aluminio y silicio en materiales de superficie sólida. Método de análisis químico.
• GB/T 29732-2021 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones de tornillo sin fin de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.

British Standards Institution (BSI), Análisis de elementos de superficie de silicio.

• BS ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
• BS ISO 14706:2001 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
• BS ISO 14706:2014 Análisis químico de superficies. Determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)

GSO, Análisis de elementos de superficie de silicio.

• GSO ISO 14706:2013 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
• OS GSO ISO 17973:2013 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• BH GSO ISO 17973:2016 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental
• GSO ISO 17973:2013 Análisis químico de superficies -- Espectrómetros de electrones Auger de media resolución -- Calibración de escalas de energía para análisis elemental

International Organization for Standardization (ISO), Análisis de elementos de superficie de silicio.

• ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
• ISO/DIS 17973:2023 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
• ISO/TR 6306:1989 Análisis químico del acero; orden de los elementos del listado
• ISO/CD 17973 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
• ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis de elementos de superficie de silicio.

• GB/T 30701-2014 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
• GB/T 29732-2013 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de electrones Auger de resolución media. Calibración de escalas de energía para análisis elemental.
• GB/T 32055-2015 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Métodos para el análisis de mapeo elemental mediante espectroscopía dispersiva de longitud de onda.

HU-MSZT, Análisis de elementos de superficie de silicio.

• MNOSZ 17616-1954 ?TT?R?SI FINOMS?G VIZSG?LATA S?R?TETT PARADICSOMBAN

Association Francaise de Normalisation, Análisis de elementos de superficie de silicio.

• NF ISO 17973:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros electrónicos de barrena de resolución media - Calibración de escalas de energía para análisis elemental

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