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現(xiàn)在の試験方法

現(xiàn)在の試験方法は全部で 19 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

現(xiàn)在の試験方法 國際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：電子管、 半導(dǎo)體ディスクリートデバイス、 オプトエレクトロニクス、レーザー裝置、 開閉裝置とコントローラー、 醫(yī)療機(jī)器。

Professional Standard - Machinery, 現(xiàn)在の試験方法

• JB/T 5809-1991 真空接觸器遮斷電流試験方法
• JB/T 5809-2007 真空接觸器遮斷電流試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 現(xiàn)在の試験方法

• GB 11755.2-1989 醫(yī)療診斷用X線裝置の管電流試験方法
• GB/T 3789.4-1991 送信管の電気的性能の試験方法 ゲート逆電流の試験方法
• GB/T 3789.2-1991 発射管の電気的性能の試験方法 アノード電流とゲート電流の試験方法
• GB/T 3789.5-1991 送信管の電気的性能の試験方法 グリッド熱放射電流の試験方法
• GB/T 3789.3-1991 発光管の電気的特性の試験方法 カソード放出電流の試験方法
• GB/T 11755.2-1989 醫(yī)療診斷用X線裝置の管電流試験方法

Professional Standard - Electron, 現(xiàn)在の試験方法

• SJ 452-1973 高圧整流器の逆電流試験方法
• SJ 2138-1982 シリコン安定化ダイオードの電流安定化試験方法
• SJ 2355.3-1983 半導(dǎo)體発光素子の試験方法 逆電流試験方法
• SJ 366-1973 反射クライストロンの電極間の漏れ電流の試験方法
• SJ 1389-1978 ノイズダイオードの電極間漏れ電流試験方法
• SJ 444-1973 高圧整流器のアノード電流と過熱時(shí)アノード電流の試験方法
• SJ 364-1973 反射クライストロンカソード電流の試験方法
• SJ/Z 9010.15-1987 電子管の電気的特性の試験 パート 15: 寄生電極電流および不要な電極電流の試験方法
• SJ 2354.3-1983 PINおよびアバランシェフォトダイオードの暗電流の試験方法
• SJ 431-1973 O型帰還波管の各極の電圧と電流の試験方法

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, 現(xiàn)在の試験方法

• DB53/T 981-2020 複合絶縁體傘カバー中のシリコーンゴムのトラップ電荷量とトラップエネルギー準(zhǔn)位の熱刺激電流試験方法

その他：   光電流試験方法, 光電流試験方法, 接觸電流試験方法, 暗電流試験方法, 現(xiàn)在の試験方法, 高周波通電試験方法, 漏れ電流試験方法, 光電流試験方法, 光電流試験方法, 現(xiàn)在のテスト, 現(xiàn)在のテスト, 試験電流と短絡(luò)電流, 光電流試験電流, 接觸電流試験方法, 瞬時(shí)電流試験方法, 瞬時(shí)電流試験方法, 光電流試験方法, 瞬時(shí)電流試験方法, 試験電流, 現(xiàn)在の方法.